DOWAメタルテック株式会社 | 伸銅・銅合金
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磐田技術センター

新材料やめっき等お客様のニーズと市場のトレンドを見据え、時代を先取りした技術・製品開発に取り組んでおります。
また、お客様の視点に立ちながら扱いやすい材料、品質の安定に取り組み、既存材料・表面処理の改良、新規開発に邁進し、
品質向上のためのプロセス技術革新にも注力しております。

研究成果

  • 技術サポート情報

    高耐摩耗性銀-グラファイト複合めっき「SilC plating®」を商標登録

  • 技術サポート情報

    日本銅学会 第54回論文賞を受賞
    「超小型コネクタ用Cu-Ni-Co-Si系銅合金の高強度化における低温焼鈍硬化」
    ※関連製品:C7035

  • 技術サポート情報

    DSC-3Nの高導電版「DSC-3N HC」をラインナップ化

  • 技術サポート情報

    日本銅学会 第53回論文賞を受賞
    「黄銅系材料の応力腐食割れ感受性の改善」

  • 技術サポート情報

    第42回 日本金属学会技術開発賞を受賞
    「電気自動車用高耐摩耗性銀めっきの開発」
    ※関連製品:SilC plating®

     

  • 技術サポート情報

    日本銅学会 第52回論文賞を以下2件が受賞
    「Snめっき材のめっき層構造が摺動特性に与える影響」
    「熱加工プロセス条件の最適化によるCu-Ni-Co-Si 系銅合金の高導電化」
    ※関連製品:Snめっき

  • 技術サポート情報

    日本銅学会 第51回論文賞を受賞
    「薄型多ピンリードフレーム用 Cu-Ni-Si 系銅合金の開発」
    ※関連製品:C7025

  • 技術サポート情報

    第39回 日本金属学会技術開発賞を受賞
    「粒界反応析出抑制による疲労特性に優れたCu-Ti合金の開発」

  • 技術サポート情報

    日本銅学会 第49回論文賞を受賞
    「粒界反応析出抑制による疲労特性に優れたCu-Ti合金の開発」

分析装置・分析事例

分析装置 特徴
FIB 固体(バルク・粉末)の高精度断面加工
FE-SEM+EBSD 固体(バルク・粉末)の試料表面の凹凸、形状観察、結晶方位解析
FE-SEM+EDS 固体(バルク・粉末)の試料表面の凹凸、形状観察、元素分析(定性・半定量)
TEM+EDS 固体(バルク・粉末)の透過電子像の撮影、元素分析(定性・半定量)
SEM+EPMA 固体(バルク・粉末)の元素分析(定性・半定量)、存在状態分析
FE-AES 固体(バルク・粉末)の試料表面と深さ方向の元素分析(定性・半定量)
XPS 固体(バルク・粉末)の試料表面の元素分析、化学状態分析(深さ百数十Å)
XRF 液体・固体(バルク・粉末)の元素分析(定性・半定量)
XRD 固体(バルク・粉末)の化合物の同定、配向測定

※上記は一例となります。他にも多数の分析装置を保有しておりますので、お気軽にご相談ください。

分析事例

結晶方位解析

EBSD(Electron BackScatter Diffraction)ではSEMと組み合わせ、ミクロな結晶方位解析が可能です。
右下図はC7035の逆極点図です。
C7035では、曲げ加工性および等方性に優れるCube 方位( {100}〈001〉)が主方位となっていることが分かります。

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